Elabo ermöglicht Solar-Serien
Die Solarbranche ist längst in der Serienfertigung angelangt. Dies stellt auch erhöhte Anforderungen an eine schnelle und zugleich genaue Prüfung aller Komponenten. Elabo hat hierzu eine Teststation für Solar-Wechselrichter entwickelt und ausgeliefert (Anforderung EN 50178).
Neue Anforderungen an Ausbringung, Varianz und Qualitätsprüfung der Produkte verlangen neue Prüfkonzepte und eine weitestgehend Automatisierung der Prüf-, und Testprozesse.
Eine große Anzahl von Wechselrichtervarianten erfordert ein häufiges Umrüsten. Für eine hohe Ausbringung ist es deshalb notwendig, die Zeiten für das Umrüsten (Formatwechsel) zu optimieren. Bei der Projektplanung der neuen Teststationen wurde deshalb sehr viel Wert auf möglichst universelle Elabo Prüftechnik gelegt.
Auch die Prüfzellen von Elabo wurden auf eine hohe Produktvarianz hin optimiert. Sowohl die Planung als auch die Realisierung der Prüfzelle und im speziellen die benötigten Prüfwechseladapter mussten zeitparallel zur Produktentwicklung/Nullserie erfolgen. Bei diesem Prozess konnte auf die langjährige Erfahrung der Elabo TestSysteme Mitarbeiter erfolgreich zurückgegriffen werden.
Die Basis für die Automatikstationen bildet die Elabo Testsystem HW-Grundmodulelemente und die Elabo Testsysteme-Prüfsoftware mit Basisprüfsequenzen.
Die Prüflinge werden manuell auf Transportwägen in das Prüfsystem geschoben und dort automatisch in der Prüfposition fixiert. Der Bediener startet den Prüfablauf durch das Tätigen der Zweihand-Bedienung. Das System schließt den Prüfraum und kontaktiert den Prüfling elektrisch über einen Wechseladapter. Die elektrischen Prüfungen beginnen.
Highlights:
Rationalisierung des Prüfablaufes
eine Test-Basisstation für alle Produkte
leichte Anpassung an Produktgrößen
automatische Relaisüberprüfung
automatische Kontaktierüberprüfung
RFID/ 2D Barcode Prüfdatenkennung
PE- Test: 0-32A, 0-1,200 Ohm
HV- Test: 100- 5000V AC/DC
FU-Test: Strommessung/Luftstrommessung
Testpunkte: 15 frei definierbar HV TP
Adaption: Wechseladapter
RFID/2D: Testsequenz Auswahl
Taktzeit: < 60 sec.
